當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 晶圓厚度測量 > 硅片厚度測量儀
產(chǎn)品分類
晶圓厚度測量
查看全部產(chǎn)品
相關文章
FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設備。 藉由先進的光學器件，F(xiàn)R-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
在線咨詢
電話
更新時間：2024-11-09
型號：
廠商性質：代理商
瀏覽量：1905