在現(xiàn)代半導(dǎo)體制造工藝中，高性能材料及其精密檢測技術(shù)對器件質(zhì)量、良率和可靠性起著決定性作用。本文結(jié)合兩份技術(shù)資料，分別介紹用于金屬有機化學(xué)氣相沉積（MOCVD）設(shè)備中的 SiC 涂層石墨基座，以及用于等離子體腔體防護的 Y?O? 抗等離子涂層，并展示如何通過光學(xué)測量系統(tǒng)（如 ThetaMetrisis FR-Scanner）實現(xiàn)對這類功能涂層的快速、無損、高精度厚度分布測繪。
一、SiC 涂層石墨基座：MOCVD 外延生長的核心承載部件
在制造 LED、功率器件（如 SiC SBD、MOSFET）及射頻器件（如 GaN HEMT）的過程中，常需在 SiC、GaAs 或硅等襯底上通過 MOCVD 技術(shù)外延生長高質(zhì)量單晶薄膜。這一過程對溫度均勻性、氣體流場、污染控制等要求極為嚴(yán)苛，因此不能將襯底直接置于金屬或普通支架上。
1.1 石墨基座的作用與挑戰(zhàn)
石墨因其優(yōu)異的熱導(dǎo)率、高溫穩(wěn)定性及低熱膨脹系數(shù)，被廣泛用作 MOCVD 設(shè)備中的基座（托盤），兼具承載體與發(fā)熱體功能。然而，在高溫、腐蝕性氣體（如 NH?、HCl、金屬有機源）環(huán)境中，純石墨易發(fā)生腐蝕、掉粉現(xiàn)象，不僅縮短使用壽命，還會污染外延層，影響芯片純度與性能。
1.2 SiC 涂層的優(yōu)勢
為解決上述問題，工業(yè)界普遍采用表面涂層技術(shù)對石墨基座進行改性。其中，碳化硅（SiC） 因具備以下特性成為理想選擇：
高致密度與全包裹性，有效隔絕腐蝕介質(zhì)；
與石墨相近的熱膨脹系數(shù)，減少熱循環(huán)下的開裂風(fēng)險；
高熱導(dǎo)率，保障外延過程中溫度均勻；
高熔點、優(yōu)異的抗氧化與抗腐蝕能力；
良好的表面平整度，維持襯底放置精度。
SiC 存在多種晶型，主要包括 α-SiC（如 4H、6H）和 β-SiC（3C）。其中 β-SiC 因合成溫度較低（1000–1600°C）、熱導(dǎo)率更高、耐腐蝕性更強，特別適用于 MOCVD 的嚴(yán)苛工況，已成為石墨基座涂層的主流材料。
二、Y?O? 抗等離子涂層：等離子體工藝中的關(guān)鍵防護層
在集成電路制造的刻蝕、清洗等等離子體工藝中，腔體內(nèi)部材料長期暴露于高能離子與活性自由基環(huán)境中，極易被侵蝕。為保護昂貴的陶瓷部件（如氧化鋁圓盤），常在其表面涂覆一層氧化釔（Y?O?） 作為抗等離子涂層。
2.1 Y?O? 的材料優(yōu)勢
Y?O? 具有：
熱穩(wěn)定性（熔點 >2400°C）；
對高氧親和力堿性熔體的優(yōu)異耐受性；
良好的電絕緣性與化學(xué)惰性；
在等離子體環(huán)境中極低的濺射產(chǎn)額。
因此，Y?O? 廣泛應(yīng)用于等離子體腔體、靜電吸盤、噴淋頭等關(guān)鍵部件的表面防護。
2.2 厚度均勻性的重要性
涂層的厚度分布均勻性直接影響其防護壽命與工藝穩(wěn)定性。過薄區(qū)域易被快速侵蝕，導(dǎo)致顆粒污染；過厚則可能引發(fā)應(yīng)力開裂。因此，對大面積（如直徑 560 mm）Y?O? 涂層進行快速、無損、高分辨率的厚度測繪至關(guān)重要。
三、檢測技術(shù)：FR-Scanner 實現(xiàn)大面積涂層精準(zhǔn)表征
ThetaMetrisis 公司的 FR-Scanner VIS/NIR 系統(tǒng)為此類需求提供了高效解決方案。該設(shè)備基于光譜反射干涉原理，在 370–1020 nm 波長范圍內(nèi)可測量 15 nm 至 100 μm 的薄膜厚度。
應(yīng)用案例：560 mm 氧化鋁圓盤上的 Y?O? 涂層
采用極坐標(biāo)掃描模式（旋轉(zhuǎn) + 徑向移動），自動采集 208 個測量點；
測得 Y?O? 層平均厚度約 10.24μm，min： 8.27 μm，max： 10.58 μm；
厚度不均勻性約為 ±11.29%，滿足多數(shù)工業(yè)應(yīng)用要求；
多次重復(fù)掃描驗證了系統(tǒng)的高重復(fù)性與準(zhǔn)確性。
該技術(shù)不僅適用于 Y?O?，也可用于 SiC、Al?O?、SiO? 等各類功能涂層的在線或離線質(zhì)量控制。
結(jié)語
無論是 MOCVD 中的 SiC 涂層石墨基座，還是等離子體設(shè)備中的 Y?O? 抗蝕涂層，涂層材料都是支撐半導(dǎo)體制造向更高性能、更小尺寸、更高良率發(fā)展的基石。而配合如 FR-Scanner 這類高通量、非接觸式光學(xué)測量系統(tǒng)，可實現(xiàn)對涂層厚度、均勻性及完整性的快速評估，為工藝優(yōu)化與設(shè)備維護提供數(shù)據(jù)支撐。
未來，隨著寬禁帶半導(dǎo)體（SiC、GaN）和制程（3 nm 及以下）的普及，對高性能涂層材料及其精密檢測技術(shù)的需求將持續(xù)增長。材料—工藝—檢測三位一體的協(xié)同創(chuàng)新，將成為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈升級的關(guān)鍵驅(qū)動力。
問題解答：
Q1：為什么在 MOCVD 工藝中不能直接使用裸露的石墨基座？
A： 雖然石墨具有優(yōu)異的熱導(dǎo)率和高溫穩(wěn)定性，但在 MOCVD 的高溫及腐蝕性氣體環(huán)境（如 NH?、HCl、金屬有機源）中，裸露石墨容易發(fā)生：
表面腐蝕和掉粉；
釋放顆粒污染外延層；
縮短設(shè)備壽命并降低芯片良率。
因此必須通過涂層（如 SiC）進行表面改性以提升耐久性和潔凈度。
Q2：為什么選擇碳化硅（SiC）作為石墨基座的涂層材料？
A： SiC 具有多項關(guān)鍵優(yōu)勢：
高致密度，能有效隔絕腐蝕性氣體；
熱膨脹系數(shù)與石墨接近，減少熱循環(huán)導(dǎo)致的開裂；
高熱導(dǎo)率，保障外延生長時的溫度均勻性；
高熔點、強抗氧化/抗腐蝕能力；
表面平整，利于襯底精確定位。
其中，β-SiC（3C 型） 因合成溫度較低（1000–1600°C）、熱導(dǎo)率更高，適用 MOCVD 應(yīng)用。
Q3：這種光學(xué)檢測技術(shù)是否只適用于 Y?O?？
A： 不是。FR-Scanner 等光譜反射系統(tǒng)具有廣泛適用性，可測量多種透明或半透明功能涂層，包括：
SiC（碳化硅）
Al?O?（氧化鋁）
SiO?（二氧化硅）
以及其他介電或陶瓷薄膜，適用于半導(dǎo)體、光伏、LED 等多個領(lǐng)域。
